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高壓閃絡(luò)測量法的工作原理：

        就大部分故障本質(zhì)來說，基本都屬于絕緣體的損壞。高阻故障是由于絕緣介質(zhì)的抗電強(qiáng)度下降所致。因為故障點(diǎn)的阻值高，測量電流小，所以即使用足夠靈敏的儀表也難以測量。對于脈沖法，由于故障點(diǎn)等效阻抗幾乎等于電纜特性阻抗，所以反射系數(shù)幾乎等于零，因得不到反射脈沖而無法測量。

但從介質(zhì)的電擊穿現(xiàn)象出發(fā)，只要對電纜加足夠高的電壓（當(dāng)然低于最高試驗電壓），故障點(diǎn)就會發(fā)生擊穿現(xiàn)象。在擊穿的瞬間，故障點(diǎn)被放電電弧短路，所以在故障點(diǎn)放電前后，就產(chǎn)生電壓的躍變。由于介質(zhì)擊穿，其電離過程需要一定的時間，而弧光放電一般要持續(xù)數(shù)百微秒到幾個毫秒，因此躍變

電壓在放電期間就以波的形式在故障點(diǎn)和電纜端頭之間來回反射。如果在電纜的端頭（始端或終端），把瞬間躍變電壓及來回反射的波形記錄下來，便可測量出電波來回反射的時間；再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度，就可以算出故障點(diǎn)到端頭的距離。基于這個物理機(jī)理產(chǎn)生了閃絡(luò)測試法。